随着信息技术的快速发展，芯片已经成为现代电子产品的核心组成部分。然而，由于芯片制造过程中的复杂性和精密度，以及市场对产品质量和安全性的要求不断提高，对芯片测试的需求也日益迫切。在这个背景下，芯片测试第