MTBF加速老化试验是评估电子产品可靠性的重要手段之一，通过模拟长时间使用过程中的环境应力，加速产品老化，从而预测其平均无故障时间（MTBF）。这一过程不仅可以帮助制造商发现潜在的设计缺陷和材料问题，