在现代科技飞速发展的背景下，各类电子产品的质量要求越来越高，特别是在极端环境下的稳定性更是被广泛关注。GJB150.3A-2009高温日循环老化测试试验作为评估电子元器件在高温条件下耐久性的重要方法，